Patent Classification(クラシフィケーション) | LexisNexis。AI classification of wafer map defect patterns by using dual。Pattern Classification for Mixed Feature-Type Symbolic Data Using。パターン識別 Patten Classfication Second EditionRicard O.Duda Peter E.Hart Daivid G.Stork 監訳:尾上守夫大型本: 659ページ言語: 日本語ISBN-10: 4915851249発売日: 2001/7/3John Wiley & Sons 新技術コミュニケーション2001年の発売だたんですね。。感動します。ドメインネーム紛争(ほぼ新品、送料込)。定価10,000円とあります。Winnyの技術。値引き交渉は致しません。コンピュータ・IT MICROGRAFX WINDOWS DRAW6。ご了承下さい。MSX メガROMゲーム必勝本 2。ご検討の程、よろしくお願いします。UIデザインの教科書 : マルチデバイス時代のサイト設計-アーキテクチャからU…。